- 品牌/商標：上海精科分析儀器廠
- 企業類型：貿易商
- 新舊程度：全新
- 原產地：上海
上海精科UV752N紫外可見分光光度計通過2011-2013年度紫外可見分光光度計3年期產品質量國家監督抽查首年檢測. 基本原理： ● 分光光度計分析法是基于不同分子結構的物質對電磁輻射選擇性吸收而建立的分析方法。 ● 應用電磁輻射波譜區通常在200nm～1000nm為紫外可見分光光度計。 ● 采用微處理機控制技術，在紫外可見光譜區域內對物質作定性、定量分析，是常規實驗室必備的多用途分析儀器。通過2011-2013年度紫外可見分光光度計3年期產品質量國家監督抽查首年檢測.
技術參數：
● 波長范圍；200nm～1000nm
● 波長允許誤差：±2nm
● 波長重復性：≤1nm
● 透射比允許誤差：±0.5%（T）（以NBS930D測定）
● 透射比重復性：≤0.2%（T）
● 光譜帶寬：4nm
● 雜散光：≤0.3%（T）(在220nm處，以NaI測定，在360nm處，以NaNO2測定)
● 穩定性: 暗電流漂移：0.2%(T)/3min 亮電流漂移：0.5%(T)/3min
上海精科UV752N紫外可見分光光度計如果您對本產品價格、圖片、參數、售后等有任何疑問歡迎致電咨詢：王斌,！
技術參數：
● 波長范圍；200nm～1000nm
● 波長允許誤差：±2nm
● 波長重復性：≤1nm
● 透射比允許誤差：±0.5%（T）（以NBS930D測定）
● 透射比重復性：≤0.2%（T）
● 光譜帶寬：4nm
● 雜散光：≤0.3%（T）(在220nm處，以NaI測定，在360nm處，以NaNO2測定)
● 穩定性: 暗電流漂移：0.2%(T)/3min 亮電流漂移：0.5%(T)/3min
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