一、產品簡介

 

    XR-806 X射線熒光能譜儀是集成了當今世界X射線熒光能譜分析領域的技術和公司科技人員深厚的理論基礎、豐富的實踐經驗，為應對歐盟 RoHS指令量身定做的一款快速分析儀器，經過實踐中的不斷完善，性能可以滿足電子行業檢測限用物質的要求。整機結構合理、緊湊，每個部件都經過精心的選擇和設計，經久耐用，性能，是電子行業成功應對歐盟RoHS指令和《中國電子信息產品污染物管理辦法》的利器。   技術規格²        檢測塑膠類樣品和輕質金屬材料中的Pb、Cd、Hg、總Br和總Cr檢出限可以5ppm。²        檢測Fe、Ni、Cu、Zn及其合金以及焊錫中的Pb、Cr等成份檢出限可以100ppm, Cd的檢出限可以20ppm。 儀器配置²        儀器部件采用美國Amptek公司生產的X-123系統，集成了Si-PIN高分辨率半導體X射線探測器、放大和整形電路、數字脈沖處理器以及脈沖高度分析器即MCA，限度地發揮探測器的性能。²         X射線管高壓發生器采用美國Spellman公司生產的50W高壓電源，性能指標，為儀器的長期運行提供了保障。²        采用廠家生產的薄鈹窗X射線管，功率達50W，化封裝，輻射和各項性能指標滿足應用要求。²        配置多種經過精心設計的濾光片，使得XR-306型X射線熒光能譜儀不分析塑膠材料中的有害物質時可以高的，同時，分析金屬材料中的Pb和Cd等有害物質也可以很好的。²        濾光片自動轉換讓操作人員無需掌握深入的理論即可進行準確的測量。²        推拉式開蓋方式結合開放式樣品腔設計地解決了樣品的檢測問題，做到小樣品測試方便，大樣品測試只要按系統提示操作同樣能操作人員。²        精心設計的應用程序不可以使用戶方便準確的檢測，還提供漂亮的檢測，對用戶開放格式定 制功能，無論何種格式的都可以準確定制。此外還提供了數據輸出到Excel表格的功能，方便用戶進行 統計分析。²        高清晰度攝像頭的設置不使檢測圖文并茂，結合所配備的多孔經準直器還可以對不均勻樣品進行定點檢測。Ø        開放式的軟件設計，出廠前已配置了常用材料的分析方法，用戶經過培訓以后也可以建立自己的分析方法，拓展儀器的使用范圍，如其他微量元素的分析和鍍層測厚。 XR-806產品參數

儀器型號	XR-806
分析原理	能量色散X射線熒光分析法
分析元素范圍	Na(11)-U(92)任意元素
檢出下限	Cd/Hg/Br/Cr/Pb≤2 ppm
樣品形狀	任意大小，任何不規則形狀
樣品類型	塑膠/金屬/薄膜/粉末/液體等
X射線管	靶材	鉬（Mo）靶
管電壓	5─50KV
管電流	1─1000ｕA
樣品照射直徑	2、5、8mm
探測器	美國Si-PIN探測器，脈沖高度分析系統
高壓發生器	美國SPELLMAN高壓發生器
前置放大器	美國前置放大器，與美國探測器兼容性好
主放大器	美國主放大器，與美國探測器兼容性好
AD轉換模塊	美國AD轉換模塊，與美國探測器兼容性好
ADC	2048道
濾光片	6種濾光片自動選擇并自動轉換
樣品定位	微動載物平臺（選配件）
樣品觀察	130倍彩色CCD攝像機
微區分析	X光聚焦微區分析系統（選配件）
分析軟件	軟件產品 BX-V1.5版本，升級
分析方法	理論α系數法、基本參數法、經驗系數法
操作系統軟件	WINDOWS XP（正版）
數據處理系統	主機	PC商務機型
CPU	≥2.8G
內存	≥512
光驅	8xDVD
硬盤	≥80G
顯示器	17寸液晶顯示器
工作環境	溫度10－35С，濕度30－70％RH
重量	60Kg（主機部分）
外形尺寸	550（W）×450(D)×450(H)mm
外部供電電源要求	AC220&plun;10%、50/60Hz
測定條件	大氣環境
測試樣品時間	100－300秒可調

 三、XR-806系列特點Ø       “七.五”與“九.五”熒光分析儀科技攻關的成果；Ø       的理論α系數法分析方法，國內；Ø       直接生成人性化分析，也可在分析軟件中定制各種風格的分析；Ø       全封閉鉛板雙迷宮措施，合標準；Ø       可以分析Na-U的元素（需相關標準樣品）；Ø       無需制樣，快速分析；Ø       主要部件，穩定性好、分析高、故障率低；Ø       國產側窗型X光管，性能穩定，壽命長（5年）更換成本低；Ø       全中文操作分析軟件，對操作人員要求不高；Ø       大的分析管理軟件，方便查詢歷史數據；Ø       自動轉換濾光片系統，國內；Ø       分析不同類型樣品參數自動設定，無需人員操作；Ø       130倍彩色CCD攝像機可監控樣品測量位置；Ø       的微動載物平臺可以微調樣品測量點（選配）；Ø       的X光聚焦微區分析系統可以分析電子元器件微小部位（選配）；Ø       美國電制冷探測器，無需添加液氮，操作維護簡單。Ø       可測量涂鍍層厚度。 四、儀器硬件部分 

4．1美國AMP-TEK Si(PIN)半導體制冷探測器

探測器的分辨率是評價能量色散X熒光光譜儀性能的主要指標之一 分辨率    <  145eV (分辨率越低則靈敏度越高)計數率    >  3000/S晶體面積  >  15平方毫米鈹窗厚度  =  0.025mm探測功率  <  1.2W 4．2、美國AMP-TEK DP40多道脈沖幅度分析器（俗稱譜儀能量刻度）通道數    2048道 4．3、美國AMP-TEK P-3電源控制器系統電源控制+5 VDC at 250 mA (1.2 W)恒定制冷控制  400 VDC 

4．4、低功率小型側窗X射線發生器（俗稱X光管

經過處理X光管可對2英寸的0.25mR/hr 的射線進行屏蔽, 罐緣油用于高壓緣和冷卻， 0.005英寸鈹窗標準窗口，額定功耗為50瓦、額定電壓為50千伏。<設計使用壽命>15000小時。 4．5、美國SPELLMAN高壓發生器

輸      入:  85～265Vac,47～63Hz,功率因數校正。1kV～5kV的型號合UL85～250Vac輸入標準電壓變動率:  無負載到滿負載，輸出電壓的0.01%電流變動率:  0～額定電壓，輸出電流的0.01%紋      波:  輸出電壓的0.25%峰-峰溫 度系 數:  電壓或電流調定，0.01%/℃穩   定 性:  預熱半小時后，0.05%/8小時 4．6、濾光片自動轉換系統4．7系統1、重新設計的低輻射X射線管經過處理（從源頭做起）2、全封閉鉛板雙層迷宮輻設計（從設計結構做起）3、全自動鉛板濾光片自動屏蔽裝置4、艙門意外開啟X射線強制中斷裝置  5、測試與X射線警示系統6、X射線劑量儀出貨檢測并接受監督 4．8、儀器外圍配套設備HP 計算機系統CPU P4 3.0內存    512 光驅    8X DVD硬盤    80G   顯示器  17寸液晶顯示器Windows XP操作系統HP 彩色噴墨打印機