X-4顯微熔點(diǎn)儀(數(shù)顯)
型號(hào):X-4
應(yīng)用范圍:測(cè)定物質(zhì)的熔點(diǎn)。用于、化工、紡織、染料等晶體化合物之測(cè)定,顯微鏡觀察。既可用毛細(xì)管法測(cè)定,又可用載玻片-蓋玻片法(熱臺(tái)法)測(cè)定。
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【產(chǎn)品詳情】
性能指標(biāo)
熔點(diǎn)測(cè)量范圍:室溫至320℃
測(cè)量重復(fù)性:&plun;1℃(在<200℃時(shí))
&plun;2℃(在200~300℃時(shí))
光學(xué)放大倍數(shù):目鏡10X;物境4X
其他:電子版說(shuō)明書(shū)








