- 品牌/商標(biāo)：臺灣Chroma
- 企業(yè)類型：貿(mào)易商
- 新舊程度：全新
- 原產(chǎn)地：臺灣
硬體設(shè)備
半自動 LED wafer/chip 點測設(shè)備
漏電流測試模組
電源量測單元
光學(xué)測試模組
ESD 測試模組 (選配)
Chroma 58173 是一組全新獨特的量測 LED 全光 通量之自動化測試系統(tǒng)。在LED的裸晶與晶粒測 試生產(chǎn)線中，常見使用部份光通量來取代全光通 量之量測方式 (見圖1)。然而，傳統(tǒng)的方式存在 一些缺點，例如：準(zhǔn)確度較低、訊噪比較低、測 試時間較長等，以致于導(dǎo)入LED 的裸晶與晶粒生 產(chǎn)線時會發(fā)生問題。
致茂研發(fā)出一種全新、高速且高度之 LED 全光通量之量測方式(見圖2)。 這種創(chuàng)新的量測 方式不僅比傳統(tǒng)方式收集更多的 LED 部分光通 量，也明顯的改善提升了量測度。
在光學(xué)量測方面，主波長、峰波長、色溫等均可 透過致茂獨特的光學(xué)設(shè)計與元件取得且穩(wěn)定 快速之?dāng)?shù)據(jù)；在機構(gòu)方面，58173 搭載一個6吋 的晶片載盤與校正基座，提供使用者一個完整 的校正與測試平臺；在電性測試方面，58173 則 具備完整之電源量測單元，無論順向電壓、漏電 流、逆向崩潰電壓等 LED 電性特性，均可于一 次滿足使用者的測試需求。
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Model | Description | 詢價 |
58173 | LED 全光通量自動測試系統(tǒng) |
