北京九州晟欣科技有限公司
金金牌會員12年證營業(yè)執(zhí)照已上傳
掃一掃
進入手機店鋪
咨詢電話SERVICE LINE
15201506284
掃一掃
進入手機店鋪
15201506284
李經(jīng)理先生(聯(lián)系我時，請說明是在維庫儀器儀表網(wǎng)看到的，謝謝)
掃一掃
進入手機店鋪
| JZ-LT2型單晶少子壽命測試儀是參考美國 A.S.T.M 標準而設(shè)計的用于測量硅單晶的非平衡少數(shù)載流子壽命。半導(dǎo)體材料的少數(shù)載流子壽命測量，是半導(dǎo)體的常規(guī)測試項目之一。本儀器靈敏度較高，配備有紅外光源，可測量包括集成電路級硅單晶在內(nèi)的各種類型硅單晶，以及經(jīng)熱處理后壽命驟降的硅單晶、多晶磷檢棒的壽命測量等。 | ||||||||||||||||||||||||
| 本儀器根據(jù)國際通用方法高頻光電導(dǎo)衰退法的原理設(shè)計，由穩(wěn)壓電源、高頻源、檢波放大器，特制的InGaAsp／InP紅外光源及樣品臺共五部份組成。采用印刷電路和高頻接插連接。整機結(jié)構(gòu)緊湊、測量數(shù)據(jù)可靠。 | ||||||||||||||||||||||||
| 技 術(shù) 指 標 ： | ||||||||||||||||||||||||
| ||||||||||||||||||||||||
詢價
