- 企業類型:制造商
- 新舊程度:全新
- 原產地:深圳
ITC57300是美國ITC公司設計生產的高集成度功率半導體分立器件動態參數測試設備,采用測試主機+功能測試頭+個性板的測試架構,可以滿足N溝道、P溝道器件、雙極晶體管等的各項動態參數的測試要求,且具有波形實時顯示分析功能,是目前具水平的完備可靠的動態參數測試設備。
ITC57300動態參數測試系統主機可執行非破壞性的瞬態測量測試,包括對半導體器件絕緣柵雙極晶體管(IGBT),功率MOSFET,二極管,雙極型器件的測試頭。主機包括所有測試設備和必要的軟件分析,可執行電阻和電感的開關時間,開關損耗,柵極電荷,TRR /的Qrr和其他瞬態測試。
ITC57300能力
測試電壓:1200 VDC 200(短路電流可達1000A)
定時測量:為1 ns
漏電流限制監視器
- MOSFET開關時間測試, Max VDD =1.2KV,0.1V Steps
- MOSFET,Diodes Qrr/Trr反向恢復時間測試,Max VDD=1.2KV, 0.1V Steps
- Qrr range:1nc~100uc,Trr range:10ns~2us
- MOSFET柵電荷Qg測試,Max VDD =1.2KV,0.1V Steps
- IGBT感性開關時間測試,Max VDD =1.2KV,0.1V Steps,Inductors range:0.1mH~159.9mH
- IGBT短路耐量測試,Max ISC=1000A
測試標準:
- MIL-STD-750 Series
額外的電源供應器
額外的測試頭
大包裝適配器
ITC57210 - N-通道和P-通道功率MOSFET,MIL-STD-750方法3472開關時間
ITC57220 - TRR /電源,MOSFET和二極管的Qrr,MIL-STD-750方法,3473
ITC57230 - 柵極電荷功率MOSFET,MIL-STD-750方法3471
ITC57240 - 電感式開關時間為IGBT,MIL-STD 750方法3477
ITC57250 - (ISC)短路耐受時間,MIL-STD-750方法3479
很容易改變的測試頭
在不同參數的自動化測試
堅固耐用的PC兼容計算機
用戶友好的菜單驅動軟件
可編程測試出紙槽
電子表格兼容的測試數據
可選內部電感負載
GPIB可編程測試設備
四通道高帶寬數字示波器
脈沖發生器
1200V電源
測試頭高電壓互鎖
接收端的高電壓互鎖
高速漏極供電開關





