詢價
- 企業類型：制造商
- 新舊程度：全新
- 原產地：江蘇省蘇州昆山市中華園西路1888號天瑞產業園
- X\\\\\\\\\\\\\\\/Y\\\\\\\\\\\\\\\/Z平臺移動速度：額定速度200mm/s 速度333.3mm/s
- SDD探測器：分辨率低至135eV
- 樣品觀察：配備全景和局部兩個工業高清攝像頭
- 同時檢測元素：最多24個元素，多達五層鍍層
- 檢出限：可達2ppm，最薄可測試0.005μm
- 鍍層厚度：一般在50μm以內（每種材料有所不同）重復性：可達0.1%
- SDD探測器：分辨率低至135eV
- 準直器：0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm與 Ф0.3mm四種準直器組合
x射線測厚儀價格是廠家的一大優勢，x-ray測厚儀的功能主要用于電鍍層厚度檢測，高，快速簡便，x熒光測厚儀國產做的是天瑞儀器，鍍層膜厚是電鍍產品的重要技術指標，關系到產品的質量以及生產成本。國產x熒光測厚儀Thick800A即使在客戶遇到嚴格的測試要求時也能夠實現快速、方便、高效的厚度分析效果，配備移動平臺，可全自動軟件操作，并進行多點測試，檢測結果更加精準。天瑞儀器的x射線熒光鍍層測厚儀的優勢在于：
X射線測厚儀性能優勢
滿足各種不同厚度樣品以及不規則表面樣品的測試需求
小φ0.1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求
高移動平臺可定位測試點，重復定位小于0.005mm
快速、無損的分析
成份分析多可達25種元素
同時可多分析5層
基于基本參數法的鍍層和成份分析方法
僅需一根USB線與電腦連接
快捷的面板控制按鈕
占用空間小、輕量化設計
技術指標有多強？
元素分析范圍從硫（S）到鈾（U）中間的任意金屬鍍層
可同時分析多達五層鍍層
薄可測試0.005μm
X射線測厚儀
鍍層厚度一般在50μm以內（每種材料有所不同）
任意多個可選擇的分析和識別模型
相互獨立的基體效應校正模型
多變量非線性回收程序
長期工作穩定性高
工作環境：
度適應范圍為15℃至30℃
電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩壓電源
儀器尺寸：576（W） x 495 （D） x 545（H） mm
重量：90 kg
天瑞儀器x射線測厚儀檢測圖譜非常清晰
鍍鎳器件是比較常見的電鍍器件，其鎳鍍層在保護銅基體免受氧化同時還能起到美觀的作用。這里以測試客戶的一件銅鍍鎳樣品為例說明此款儀器的測試效果。以下使用Thick800A儀器對銅鍍鎳樣品實際測試Ni層厚度，七次的結果其標準偏差和相對標準偏差。且可在樣品上進行定位測試，其測試位置如圖
