X射線熒光光譜儀工作原理介紹
用X射線照射試樣時(shí)，試樣可以被激發(fā)出各種波長的熒光X射線，需要把混合的X射線按波長（或能量）分開，分別測(cè)量不同波長（或能量）的X射線的強(qiáng)度，以進(jìn)行定性和定量分析，為此使用的儀器叫X射線熒光光譜儀。由于X光具有一定波長，同時(shí)又有一定能量，因此，X射線熒光光譜儀有兩種基本類型：波長色散型和能量色散型。下是這兩類儀器的原理圖。
    用X射線照射試樣時(shí)，試樣可以被激發(fā)出各種波長的熒光X射線，需要把混合的X射線按波長（或能量）分開，分別測(cè)量不同波長（或能量）的X射線的強(qiáng)度，以進(jìn)行定性和定量分析，為此使用的儀器叫X射線熒光光譜儀。由于X光具有一定波長，同時(shí)又有一定能量，因此，X射線熒光光譜儀有兩種基本類型：波長色散型和能量色散型。下圖是這兩類儀器的原理圖。
  

江蘇天瑞儀器股份有限公司是生產(chǎn)光譜、色譜、質(zhì)譜等分析測(cè)試儀器及其軟件的研發(fā)、生產(chǎn)和銷售一體型企業(yè)。天瑞EDX4500H,EDX2000H,EDX1800BS,EDX3600H,OES系列儀器是測(cè)合金元素成分檢測(cè)儀,專門研發(fā)測(cè)試合金成分分析.測(cè)試過程校準(zhǔn)，保證測(cè)量，內(nèi)置多條曲線，可滿足多種元素的分析需要。 X熒光光譜儀是利用XRF檢測(cè)原理實(shí)現(xiàn)對(duì)各種元素成份進(jìn)行快速、準(zhǔn)確、無損分析。該儀器的主要特征是利用智能真空系統(tǒng)，可對(duì)Si、P、S、Al、Mg等輕元素具有良好的激發(fā)效果，利用XRF技術(shù)可對(duì)高含量的Cr、Ni、Mo等重點(diǎn)關(guān)注的元素進(jìn)行成分分析，在冶煉過程控制中起到了測(cè)試時(shí)間短，大大提高了檢測(cè)效率和工作效率的作用。另外，在合金分析、全元素分析、有害元素檢測(cè)應(yīng)用上也十分廣泛。

EDX3600H合金光譜儀是天瑞儀器公司為合金測(cè)試專門開發(fā)的儀器類型。
具有測(cè)試高、測(cè)試速度快、測(cè)試簡單等特點(diǎn)。
同時(shí)具有合金測(cè)試、金屬牌號(hào)分析、有害元素分析，土壤分析儀、貴金屬分析等功能。
檢測(cè)樣品包括從鈉至鈾的所有合金、金屬加工件、礦物、礦渣、巖石等，形態(tài)為固體、液體、粉末等。
性能特點(diǎn):高效超薄窗X光管
針對(duì)合金的測(cè)試而開發(fā)的專用配件
SDD硅漂移探測(cè)器，良好的能量線性、能量分辨率和能譜特性，較高的峰背比
低能X射線激發(fā)待測(cè)元素，對(duì)Pb、S等微含量元素激發(fā)效果好
智能抽真空系統(tǒng)，屏蔽空氣的影響，大幅擴(kuò)展測(cè)試的范圍
自動(dòng)穩(wěn)譜裝置保證了儀器工作的一致性；
高信噪比的電子線路單元
針對(duì)不同樣品自動(dòng)切換準(zhǔn)直器和濾光片，免去手工操作帶來的繁瑣
多參數(shù)線性回歸方法，使元素間的吸收、增強(qiáng)效應(yīng)得到明顯的抑制；
內(nèi)置高清晰攝像頭
液晶屏顯示讓儀器的重要參數(shù)（管壓、管流、真空度）一目了然
標(biāo)準(zhǔn)配置：合金測(cè)試高效超薄窗X光管
超薄窗大面積的原裝進(jìn)口SDD探測(cè)器
光路增強(qiáng)系統(tǒng)
高信噪比電子線路單元
內(nèi)置高清晰攝像頭
自動(dòng)切換型準(zhǔn)直器和濾光片
自動(dòng)穩(wěn)譜裝置
三重安全保護(hù)模式
相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型
多變量非線性回歸程序
整體鋼架結(jié)構(gòu)，力度可靠的保證
90mm×70mm的液晶屏
外形尺寸：660mm×510mm×350mm
樣品腔體積：Φ320mm×100mm
重量：65Kg
技術(shù)指標(biāo)：測(cè)量元素范圍：從鈉（Na）到鈾（U）
元素含量分析范圍： ppm—99.99%（不同元素，分析范圍不同）
同時(shí)分析元素：性可測(cè)幾十種元素
測(cè)量時(shí)間：60秒-200秒
能量分辨率為：（140±5）eV
管壓：5KV-50KV
管流：50uA-1000uA
應(yīng)用領(lǐng)域：檢測(cè)以銅合金、鐵合金、鎳合金為主的任何合金類產(chǎn)品