詢價
- 企業類型：制造商
- 新舊程度：全新
- 原產地：日本
- 測量頻率：1MHz~3GHz
- 測量時間：0.5ms
- 測量值偏差：0.07%
- 基本精度：±0.65% rdg.
HIOKI/日置IM7587阻抗分析儀基本特征
● 測試電壓測量頻率：1MHz~3GHz
● 測量時間：0.5ms（模擬測量時間）
● 測量值偏差：0.07%（用3GHz測量線圈1nH時）
● 基本精度：±0.65% rdg.
● 緊湊主機僅機架一半大小，測試頭尺寸僅手掌大小
● 豐富的接觸檢查（DCR測量、Hi-Z篩選、波形判定）
● 分析模式下可以邊掃描測量頻率、測量信號電平邊進行測量
阻抗分析儀IM7587：等效電路分析功能
能夠以測量結果為基礎推測5種等效電路模式的常數。 而且，可以通過模擬功能，使用推測結果或者任意的常數來顯示頻率特性的理想值。 此外，使用比較器功能，還能夠確定測量結果是否在判定區域內。
IM7587阻抗分析儀：使用SMD治具IM9201進行LCR測量
IM7580系列5種機型的測量頻率覆蓋了1MHz?3GHz。
和用于6種尺寸SMD的測試治具IM9201組合使用，能夠簡單準確的測量樣品。
阻抗分析儀IM7580系列：區域判定功能
分析模式的比較器功能中，可以確定測量值是否進入了任意設置的判定區域內。 “區域判定功能”是設置上限值和下限值的范圍，并以IN/NG來顯示判定結果。
HIOKI/日置IM7587阻抗分析儀基本參數
測量模式LCR (LCR測量),分析儀 (掃頻測量), 連續測量
測量參數Z, Y, θ, Rs (ESR), Rp, X, G, B, Cs, Cp, Ls, Lp, D (tanδ), Q
精度保證范圍100 mΩ~5 kΩ
顯示范圍Z: 0.00m~9.99999 GΩ / Rs, Rp, X: ± (0.00 m~9.99999 GΩ)
Ls, Lp: ± (0.00000 n~9.99999 GH) / Q: ± (0.00~9999.99)
θ: ± (0.000°~180.000°), Cs, Cp: ± (0.00000 p~9.99999 GF)
D: ± (0.00000~9.99999), Y: (0.000 n~9.99999 GS)
G, B: ± (0.000 n~9.99999 GS), Δ%: ± (0.000 %~999.999 %)
基本精度Z: ±0.65 % rdg. θ: ±0.38°
測量頻率1 MHz?3 GHz (設置分辨率100 kHz)
測量信號電平功率 (dBm)模式： -40.0 dBm~ +1.0 dBm
電壓(V) 模式: 4 mV~502 mVrms
電流(I) 模式: 0.09 mA~10.04 mArms
輸出阻抗50 Ω (10 MHz時)
顯示彩色TFT 8.4英寸, 觸摸屏
測量時間0.5ms（FAST、模擬測量時間、代表值）
功能接觸檢查、比較器、BIN判定（分類功能）、面板讀取/保存、存儲功能、等效電路分析、相關補償
接口EXT I/O (處理器), USB通訊, U盤, LAN
RS-232C (選件), GP-IB (選件)
電源AC 100~240 V, 50/60 Hz, 70 VA max
體積和重量主機: 215W × 200H × 348D mm, 8.0 kg
測試頭: 90W × 64H × 24D mm, 300 g
附件測試頭×1, 連接線×1, 使用說明書×1, CD-R (通訊說明書) ×1, 電源線×1
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