- 測試平臺:精密二維移動樣品平臺,探測器和X光管上下可動,實現三維移動。
- 探測器:Si-Pin探測器
- 工作原理:利用x射線對金屬表面進行激發,檢測熒光強度來換算成金屬表層的厚度的儀器
- 準直器大小:φ0.1mm的小孔準直器
- 溫度要求:15℃至30℃。
- 電源:交流220V±5V 建議配置交流凈化穩壓電源
- 外觀尺寸:576(W)×495(D)×545(H) mm
鍍金測厚儀產品介紹
鍍金測厚儀是一種用于檢測金屬鍍層厚度的儀器,它是一種無損測試設備,基于X射線原理,具有測試速度快和測試精度高等優點,廣泛應用于電鍍廠。該儀器功能強大,配合專門開發的軟件,在鍍層行業中表現出色。Thick-800A X熒光測厚儀是天瑞公司憑借多年的經驗研發的一款針對鍍層行業的儀器,具備自動軟件操作和多點測試功能,能夠由軟件控制測試點和移動平臺。

參數規格
鍍金厚度儀型號:Thick-800A
元素分析的范圍包括從硫(S)到鈾(U)。
可以同時分析超過30種元素,并具有五層鍍層的功能。
分析含量范圍通常在 ppm 到 99.9% 之間。
鍍層的厚度一般在50微米以內(不同材料可能有所差異)。
可以選擇的多個分析和識別模型。
相互獨立的基體效應校正模型。
多變量非線性回歸程序
X熒光測厚儀的溫度適應范圍為15℃到30℃。
電源要求:交流220V±5V,建議使用交流凈化穩壓電源。
外形尺寸: 576毫米(寬)× 495毫米(深)× 545毫米(高)
樣品室的尺寸為:500毫米(寬)× 350毫米(深)× 140毫米(高)。
體重:90公斤
產品特點
開放式樣本腔。
鍍金測厚儀配備精密的二維移動樣品平臺,探測器和X光管可以上下移動,從而實現三維的靈活移動。
雙激光定位系統。
鉛玻璃防護罩。
SDD探測器。
信號檢測電子電路。
高低壓電源。
X光管。
高度傳感器
保護傳感器
計算機和噴墨打印機
主要優點
鍍金測厚儀能夠滿足各種厚度樣品以及不規則表面樣品的測試需求。
0.1毫米的小孔準直器能夠滿足微小測試點的要求。
高精度移動平臺能夠準確定位測試點,其重復定位精度小于0.005毫米。
采用高精度激光技術,可自動確定測試高度。
使用定位激光確定光斑位置,確保測試點與光斑保持一致。
鼠標可以控制移動平臺,鼠標點擊的位置即為測量點。
高分辨率探頭增強了分析結果的準確性。
有效的射線屏蔽效果
測試口對高度敏感傳感器的保護措施。
產品用途
金屬鍍層厚度的測量,以及電鍍液和鍍層成分的分析。
鍍金測厚儀主要應用于貴金屬加工及飾品制造行業,銀行、飾品銷售及檢測機構,以及電鍍行業。







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