型號/規格：TDF-3000

產品描述：儀器簡介：X射線晶體分析儀采用PLC控制技術，該技術控制，干擾性好， 可實現高壓部分無故障率。PLC控制高 X射線晶體分析儀采用PLC控 制技術，該技術控制，干...

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型號/規格：TDF-3000

產品描述：儀器簡介：X射線晶體分析儀采用PLC控制技術，該技術控制，干擾性好， 可實現高壓部分無故障率。PLC控制高 X射線晶體分析儀采用PLC控 制技術，該技術控制，干...

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型號/規格：GDS-8078#$%^79#$制造商%^647#$全新%^648#$%^80#$深圳

產品描述：智慧源石英晶體分析儀，石英晶體測試儀GDS-80采用π型網絡零相位法實現等測量。智慧源石英晶體分析儀，石英晶體測試儀GDS-80測量高，速度快；具有串聯諧振頻...

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型號/規格：GDS-8078#$%^79#$制造商%^647#$全新%^648#$%^80#$深圳

產品描述：智慧源石英晶體分析儀，石英晶體測試儀GDS-80采用π型網絡零相位法實現等測量。智慧源石英晶體分析儀，石英晶體測試儀GDS-80測量高，速度快；具有串聯諧振頻...

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型號/規格：JF－200050#$%^51#$%^129#$%^624#$%^52#$

產品描述：中國射線基地 射線儀器的搖籃 本公司是我國發展早、規模、技術力量雄厚的射線儀器科研及生產基地，機械部重點企業，遼寧省高新技術企業，通過ISO9001:2000國...

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型號/規格：JF－200050#$%^51#$%^129#$%^624#$%^52#$

產品描述：中國射線基地 射線儀器的搖籃 本公司是我國發展早、規模、技術力量雄厚的射線儀器科研及生產基地，機械部重點企業，遼寧省高新技術企業，通過ISO9001:2000國...

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型號/規格：TDF-3000/3200

產品描述：產品介紹 TDF-3000/3200型X射線晶體分析儀是研究物質內部微觀結構的一種大型分析儀器，主要應用于單晶定向、檢驗缺陷...

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型號/規格：TDF-3000/3200

產品描述：產品介紹 TDF-3000/3200型X射線晶體分析儀是研究物質內部微觀結構的一種大型分析儀器，主要應用于單晶定向、檢驗缺陷...

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產品描述：晶體分析儀能夠提供穩定的X射線光源，用來研究物質內部的微觀結構。 　　該儀器的特點是利用可控硅和集成電路自動控制系統進行調流調壓，從而獲得一個強而穩...

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產品描述：晶體分析儀能夠提供穩定的X射線光源，用來研究物質內部的微觀結構。 　　該儀器的特點是利用可控硅和集成電路自動控制系統進行調流調壓，從而獲得一個強而穩...

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產品描述：晶體分析儀能夠提供穩定的X射線光源，用來研究物質內部的微觀結構。 　　該儀器的特點是利用可控硅和集成電路自動控制系統進行調流調壓，從而獲得一個強而穩...

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產品描述：晶體分析儀能夠提供穩定的X射線光源，用來研究物質內部的微觀結構。 　　該儀器的特點是利用可控硅和集成電路自動控制系統進行調流調壓，從而獲得一個強而穩...

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型號/規格：QWA-5

產品描述：可瑞時鐘晶體分析儀（QWA-5） 　　產品簡介 　　本機為時間測試方面之新研制產品，具備以下功能：　 　　◆時間測量　 　　S／D每日快（＋）或慢（-）若干秒...

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型號/規格：QWA-5

產品描述：可瑞時鐘晶體分析儀（QWA-5） 　　產品簡介 　　本機為時間測試方面之新研制產品，具備以下功能：　 　　◆時間測量　 　　S／D每日快（＋）或慢（-）若干秒...

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型號/規格：QWA-5A

產品描述：QWA-5A時鐘晶體分析儀 特性 ：1測量范圍：適用于使用32.768khz晶振的時鐘電路，如電子定時器、電子溫控器、電子秤、遙控器及各類電子鐘表等。2電源電壓：220...

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型號/規格：QWA-5A

產品描述：QWA-5A時鐘晶體分析儀 特性 ：1測量范圍：適用于使用32.768khz晶振的時鐘電路，如電子定時器、電子溫控器、電子秤、遙控器及各類電子鐘表等。2電源電壓：220...

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型號/規格：QWA-5A

產品描述：時鐘晶體分析儀 QWA-5 WLT 32.768KHz,專測鐘表類 另:下列型號二手儀器現在均有現貨，數量各異，歡迎選購或租賃。頻譜分析儀: HP8591E/ HP8560A/ HP8561B/...

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型號/規格：QWA-5A

產品描述：時鐘晶體分析儀 QWA-5 WLT 32.768KHz,專測鐘表類 另:下列型號二手儀器現在均有現貨，數量各異，歡迎選購或租賃。頻譜分析儀: HP8591E/ HP8560A/ HP8561B/...

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型號/規格：JF-2

產品描述：用途： 該X射線晶體分析儀，主要用于研究物質內部微觀結構。如：單晶定向、檢驗缺陷、物質定性、測定點陣參數、測定殘余應力等。主要參數：電 源：AC220V 50...

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型號/規格：JF-2

產品描述：用途： 該X射線晶體分析儀，主要用于研究物質內部微觀結構。如：單晶定向、檢驗缺陷、物質定性、測定點陣參數、測定殘余應力等。主要參數：電 源：AC220V 50...

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