產品名稱： BC3187光電耦合器件測試系統
測試系統用途及主要測試對象測試系統可對半導體分立器件進行測試，可測試的器件類型和參數項如下：光耦： R、BVECO、Tr、Tf、Toff、BVCBO、BVCEO、ICBO、ICEO、HFE、VBAT、VCAT、IR、IAKF、IAKR 光敏二、三管：ID、IL、VOC、ISC、BV、BVCE 測試系統可對器件測試結果進行存儲和打印。測試原理合相應的標準、標準。
測試系統用途及主要測試對象測試系統可對半導體分立器件進行測試，可測試的器件類型和參數項如下：光耦： R、BVECO、Tr、Tf、Toff、BVCBO、BVCEO、ICBO、ICEO、HFE、VBAT、VCAT、IR、IAKF、IAKR 光敏二、三管：ID、IL、VOC、ISC、BV、BVCE 測試系統可對器件測試結果進行存儲和打印。測試原理合相應的標準、標準。
測試系統用途及主要測試對象
測試系統可對半導體分立器件進行測試，可測試的器件類型和參數項如下：
光耦： R、BVECO、Tr、Tf、Toff、BVCBO、BVCEO、ICBO、ICEO、HFE、VBAT、VCAT、IR、IAKF、IAKR
光敏二、三管：ID、IL、VOC、ISC、BV、BVCE
測試系統可對器件測試結果進行存儲和打印。
測試原理合相應的標準、標準。
測試系統技術指標
1. 電流/電壓源 VIS
1). 加壓(FV)
| 量 程 | 分辨率 | 精 度 |
| ±20V | 610uV | ±0.1% 設定值±2mV |
| ±10V | 305uV | ±0.1% 設定值±2mV |
| ±2V | 61uV | ±0.1% 設定值±2mV |
2).加流(FI)：
| 量 程 | 分辨率 | 精 度 |
| ±20A | 610uA | ±0.5% 設定值±50mA |
| ±2A | 61uA | ±0.2% 設定值±5mA |
| ±200mA | 6.1uA | ±0.1% 設定值±500uA |
| ±20mA | 610nA | ±0.1% 設定值±50uA |
| ±2mA | 61nA | ±0.1% 設定值±5uA |
| ±200uA | 6.1nA | ±0.1% 設定值±500nA |
| ±20uA | 610pA | ±0.2% 設定值±50nA |
| ±2uA | 61pA | ±0.5% 設定值±5nA |
2. 數據采集 VM
16位ADC，100K/S采樣速率。
1). 電流測量(MI)
| 量 程 | 分辨率 | 精 度 |
| ±10A | 305uA | ±0.5% 讀數值±20mA |
| ±2A | 61uA | ±0.2% 讀數值±5mA |
| ±200mA | 6.1uA | ±0.1% 讀數值±500uA |
| ±20mA | 610nA | ±0.1% 讀數值±50uA |
| ±2mA | 61nA | ±0.1% 讀數值±5uA |
| ±200uA | 6.1nA | ±0.1% 讀數值±500nA |
| ±20uA | 610pA | ±0.1% 讀數值±50nA |
| ±2uA | 61pA | ±0.2% 讀數值±5nA |
| ±200nA | 6.1pA | ±0.5% 讀數值±0.5nA |
2). 電壓測量(MV)
| 量 程 | 分辨率 | 精 度 |
| ±1000V | 61mV | ±0.5% 讀數值±200mV |
| ±100V | 3.05mV | ±0.2% 讀數值±20mV |
| ±20V | 610uV | ±0.1% 讀數值±10mV |
| ±10V | 305uV | ±0.1% 讀數值±10mV |
| ±2V | 61uV | ±0.1% 讀數值±2mV |
| ±200mV | 6.1uV | ±0.2% 讀數值±2mV |
3. 高壓源 HVS(基本) 16位DAC
| 量 程 | 分辨率 | 精 度 |
| ±1000V/5mA | 30.5mV | ±0.5% 設定值±500mV |
測試系統硬件基本配置
主控計算機一臺：Windows操作系統、PCI插槽1個以上；
計算機PCI接口板(CPUINT)一塊；
系統接口板(SYSINT)一塊(含GPIB接口)；
數據采集板(VM)一塊；
20A/20V程控電流電壓源(VIS)兩塊；
±1000V程控電壓源(HVS)一塊；
電流/電壓轉換板(IVC）一塊；
電源控制板(PWC)一塊；
測試臺矩陣板(STATION)一塊；
自檢模板二個；
測試適配器四個（二管、TO-92、TO-3、TO-220）。
測試系統軟件
系統軟件一套，其中包括：
1. 菜單式測試程序編輯軟件
2. 診斷軟件
3. 校準軟件
