ViewMM全自動光學三坐標影像測量儀的詳細信息

• 分辨率：(ppm)
• 外形尺寸：**(mm)
• 準確度：——(%)
• 重量：(kg)
• 測量范圍：——(m)

可追述至美國NIST標準的全自動光學三坐標影像測量儀ViewMM??View?Micro-Metrology全自動光學三坐標影像測量儀(ViewMM)是一家的光學測量設備供應商，生產適合過程工藝控制測量應用的全自動高光學三坐標影像測量系統&超高顯微量測系統。??View?Micro-Metrology非接觸式光學三坐標測量儀適用范圍：
◆Flip?chip、BGQ、QFP、QFN、MCM等先進封裝間距、線寬、角度、弧度、高度等尺寸測量
◆SMT組裝裝配、PCB&FPCB撓性電路等關鍵尺寸測量
◆?絲網印刷孔徑、位置、厚度、角度等測量
◆Bump?on?die、Solder?Paste、?光纖關鍵尺寸測量
◆IC?&?LED封裝引線架Leadframes、探針卡角度、間距、高度等測量
◆LED?SMD封裝測量，包括膠高、間距等測量
◆PhotoMask、MEMS晶圓級檢測、關鍵尺寸測量等應用?
?Pinnacle?250????????????????◆測量范圍(XYZ)：250?x?150?x100?mm
?◆測量：E2?(XY)?=?(2.0?+5L/1000)um，E1(Z)?=?(3.0?+5L/1000)um，L：測量長度mm
?◆LED背光、LED同軸表面光◆承載力：25kg?Pinnacle?250?應用范圍：微小、緊公差部件，高密度特征尺寸部件，像硬盤驅動臂、打印頭、精密沖壓件以及芯片級封裝等。
View?Micro-Metrology可選配件：
◆?多倍率物鏡
◆?程控多色環形光源
◆Rochi?Grid自動聚焦
◆?激光探針TTL?
◆?百萬像素數字CCD??View?Micro-Metrology光學顯微測量系統：
View?Micro-Metrology(Viewmm)超高光學顯微測量系統MicroLine和Precis200主要用于測量半導體、MEMS晶圓、硬盤磁頭滑動裝置以及光刻掩模板之CD(線寬、間距、高度等)和涂覆物(多層套刻、圓、對接誤差以及邊緣粗糙度等)量測。
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