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紫外可見分光光度計UV757CRT產品特點：
自動八聯比色池進樣系統，方便您的操作 關鍵元件采用進口元件，保證的測量性能 全新獨特的光學性能設計，優質的光學器件，保證較低的雜散光和出色的穩定性 基于Windows平臺開發的強大軟件，界面友好，功能強大，方便您的存儲輸出，方便辦公，節省費用． 鎢燈氘燈選用世界品牌，原裝進口，保證光源的長期穩定可靠。 產品可以以主機和連接計算機兩種方式分別使用，通過連接計算機產品可以進行掃描功能，并使產品功能大大提高。
紫外可見分光光度計UV757CRT性能指標： 顯示：主機2*20字LCD顯示 波長范圍：190nm～1100nm 光源：DD2.5A氘燈，鎢鹵素燈12V20W 接收元件：光電池(進口) 波長準確度：±0.8nm 波長重復性：≤0.2nm 光譜帶寬：3nm 雜光：≤0.15%T(220nm和360nm處) 透射比顯示范圍：0.0%T～200.0%T 吸光度顯示范圍：-0.301～4.000A 濃度直讀范圍：0000～9999 透射比準確度：±0.5％T(以NBS930D測試) 透射比重復性：≤0.2％T 噪聲：100%噪聲≤0.5%T, 0% 噪聲≤0.2%T 漂移：≤0.004A/30min 基線直線性：±0.004A 電源：AC220V±22V,50Hz±1Hz 外形尺寸：520mm*410mm*200mm 凈重：18kg
紫外可見分光光度計UV757CRT技術特點： 能在紫外、可見光譜區域對樣品物質做定性定量的分析。 快速調整(整時間小于3S)。 采用微機測量系統，T-A轉換，自動調整"0"和調整"100",具有GOTOλ,時間掃描，自動八聯樣品架，自動扣除
比色皿誤差，濃度多點標定，斜率和載距設置等功能，具有RS-232 接口和并行打印口(印機專用，另行選項配)。 聯機功能：通過RS-232串行接口，可利用上層軟件做全波長掃描，時間掃描，濃度回歸方程(1次，2次，3次 ),多波長測試，并大大擴展測試功能(除主機功能外)提供數據向Excel 傳送方式，便于用戶的后期處理。 基于Windows開發的UVCONTROL控制軟件，可對主機進行全面控制。包括數據采集(單點測量，光譜掃描定量測定，時間掃描)各種數據處理。 標準化、峰谷檢測、面積計算。
圖譜的放大、縮小、平滑、導樹、四則運算 、1～4 次導樹， T～A轉換單波長、多波長定量測定。
K系數法、一點工作曲線法，可進行次函數擬合定量分析中異常點剔除。
掃描圖譜、工作曲線和測量結果可海量存儲，方便您的辦公。
測試可以以標準文件或者Excel輸出。
自動八聯比色池進樣系統，方便您的操作 關鍵元件采用進口元件，保證的測量性能 全新獨特的光學性能設計，優質的光學器件，保證較低的雜散光和出色的穩定性 基于Windows平臺開發的強大軟件，界面友好，功能強大，方便您的存儲輸出，方便辦公，節省費用． 鎢燈氘燈選用世界品牌，原裝進口，保證光源的長期穩定可靠。 產品可以以主機和連接計算機兩種方式分別使用，通過連接計算機產品可以進行掃描功能，并使產品功能大大提高。
紫外可見分光光度計UV757CRT性能指標： 顯示：主機2*20字LCD顯示 波長范圍：190nm～1100nm 光源：DD2.5A氘燈，鎢鹵素燈12V20W 接收元件：光電池(進口) 波長準確度：±0.8nm 波長重復性：≤0.2nm 光譜帶寬：3nm 雜光：≤0.15%T(220nm和360nm處) 透射比顯示范圍：0.0%T～200.0%T 吸光度顯示范圍：-0.301～4.000A 濃度直讀范圍：0000～9999 透射比準確度：±0.5％T(以NBS930D測試) 透射比重復性：≤0.2％T 噪聲：100%噪聲≤0.5%T, 0% 噪聲≤0.2%T 漂移：≤0.004A/30min 基線直線性：±0.004A 電源：AC220V±22V,50Hz±1Hz 外形尺寸：520mm*410mm*200mm 凈重：18kg
紫外可見分光光度計UV757CRT技術特點： 能在紫外、可見光譜區域對樣品物質做定性定量的分析。 快速調整(整時間小于3S)。 采用微機測量系統，T-A轉換，自動調整"0"和調整"100",具有GOTOλ,時間掃描，自動八聯樣品架，自動扣除
比色皿誤差，濃度多點標定，斜率和載距設置等功能，具有RS-232 接口和并行打印口(印機專用，另行選項配)。 聯機功能：通過RS-232串行接口，可利用上層軟件做全波長掃描，時間掃描，濃度回歸方程(1次，2次，3次 ),多波長測試，并大大擴展測試功能(除主機功能外)提供數據向Excel 傳送方式，便于用戶的后期處理。 基于Windows開發的UVCONTROL控制軟件，可對主機進行全面控制。包括數據采集(單點測量，光譜掃描定量測定，時間掃描)各種數據處理。 標準化、峰谷檢測、面積計算。
圖譜的放大、縮小、平滑、導樹、四則運算 、1～4 次導樹， T～A轉換單波長、多波長定量測定。
K系數法、一點工作曲線法，可進行次函數擬合定量分析中異常點剔除。
掃描圖譜、工作曲線和測量結果可海量存儲，方便您的辦公。
測試可以以標準文件或者Excel輸出。
