Sphere-3000球面光學元件顯微檢測儀
Sphere3000是一套全波長顯微球面光學元件光譜分析儀，能快速準確地測量各類球面/非球面器件的相對/反射率。適用于凸透鏡、凹透鏡、鏡片等的鍍膜反射率測量。還可進行有干涉條紋的單層膜厚或折射率測量。
特點：
- 顯微測定微小領域的反射率 物鏡對焦于被測物微小區域（φ60μm）
- CIE顏色測定 X Y色度圖，x, y, L, a, b, 飽和度，主波長等
- 檢測速度快 高性能探測器，能在幾秒內實現重現性高的測定
- 消除背面反射光 無需進行背面防反射處理即可快速準確地測定表面反射率
技術參數
| 型號 | Sphere-3000（I型） | Sphere-3000（II型） | Sphere-3000（III型） |
| 檢測范圍 | 380~800nm | 380~1000nm | 380~1100nm |
| 波長分辨率 | 1nm | 1nm | 1nm |
| 相對檢測誤差 | ﹤1% | ﹤1% | ﹤0.5% |
| 測定方法 | 與標準物比較測定 | ||
| 被測物再現性 | ±0.1%以下 (2σ)（380nm~410nm） ±0.05%以下 (2σ)(410nm~800nm) | ±0.1%以下 (2σ)（380nm~410nm） ±0.05%以下 (2σ)(410nm~1000nm) | ±0.1%以下 (2σ)（380nm~410nm） ±0.05%以下 (2σ)(410nm~1100nm) |
| 單次測量時間 | ﹤1s | ||
| 0.3nm | |||
| 被測物N.A. | 0.12(使用10×對物鏡時) 0.24(使用20×對物鏡時) | ||
| 被測物尺寸 | 直徑>1mm 厚度>1mm(使用10×對物鏡時) 厚度>0.5mm(使用20×對物鏡時) | ||
| 被測物 測定范圍 | 約φ60μm(使用10×對物鏡時) 約φ30μm(使用20×對物鏡時) | ||
| 設備重量 | 約15kg（光源內置） | ||
| 設備尺寸 | 300(W)×550(D)×570(H)mm | ||
| 使用環境 | 水平且無振動的場所 溫度：23±5℃；濕度：60％以下、無結露， | ||
| 操作系統 | Windows XP, Windows Vista，Win7 | ||
| 軟件 | 分光反射率、物體顏色、單層膜厚（有干涉條紋）和鍍膜折射率（有干涉條紋）測定 | ||
