X熒光光譜儀

型號：EDX4500H 

EDX 4500H X熒光光譜儀是繼EDX1800B和EDX3600H之后更的增強型光譜儀，利用XRF檢測原理實現(xiàn)對各種元素成份進行快速、準確、分析。該儀器的主要特征是利用智能真空系統(tǒng)，可對Si、P、S、Al、Mg等輕元素具有良好的激發(fā)效果，利用XRF技術(shù)可對高含量的Cr、Ni、Mo等重點關(guān)注的元素進行分析，在冶煉過程控制中起到了測試時間短，大大了檢測效率和工作效率的作用。另外，在合金分析、全元素分析、有害元素檢測應(yīng)用上也十分廣泛。

性能特點

窗X光管，指標國際水平新的數(shù)字多道技術(shù)，讓測試更快，計數(shù)率100000CPS，更高。

在合金檢測中效果更好SDD硅漂移探測器，良好的能量線性、能量分辨率和能譜特性，較高的峰背比

天瑞儀器產(chǎn)品—信噪比增強器（SNE），信號處理能力25

X射線激發(fā)待測元素，對Si、P等輕元素激發(fā)智能抽真空系統(tǒng)，屏蔽空氣的影響，大幅擴展測試的范圍自動穩(wěn)譜裝置了儀器工作的一致性

高信噪比的電子線路單元針對不同樣品自動切換準直器和濾光片，免去手工操作帶來的繁瑣解譜技術(shù)使譜峰分解，使被測元素的測試結(jié)果具有相等的分析多參數(shù)線性回歸方法，使元素間的吸收、增應(yīng)得到明顯的抑制內(nèi)置高清晰攝像頭液晶屏顯示讓儀器的重要參數(shù)（管壓、管流、真空度）一目了然

技術(shù)參數(shù)

產(chǎn)品型號：EDX 4500

產(chǎn)品名稱：X熒光光譜儀

測量元素范圍：從鈉（Na）到鈾（U）

元素含量分析范圍： ppm—99.99%（不同元素，分析范圍不同）

同時分析元素：性可測幾十種元素

分析：0.05% （含量高于96%以上的樣品、21次測試穩(wěn)定性）

測量時間：30秒-200秒

探測器能量分辨率為：145&plun;5eV管壓：5KV-50KV管流：50μA-1000μA

測量對象狀態(tài)：粉末、固體、

液體輸入電壓：AC 110V/220V

環(huán)境溫度：15℃-30℃

環(huán)境濕度：35%-70%

樣品腔體積：320mm×100mm外形尺寸：660mm×510mm×350mm

重量：65Kg

標準配置

窗X光管SDD硅漂移探測器數(shù)字多道技術(shù)信噪比增強器 

SNE光路增強系統(tǒng)高信噪比電子線路單元

內(nèi)置高清晰攝像頭自動切換型準直器和濾光片自動穩(wěn)譜裝置三重保護模式

的整體鋼架結(jié)構(gòu)90mm×70mm的狀態(tài)顯示液晶屏真空泵

應(yīng)用領(lǐng)域

合金檢測、全元素分析、有害元素檢測（RoHS、鹵素）