I1C16256-25K功能測(cè)試儀,是CECCLab新推出的芯片測(cè)試儀,具有操作簡(jiǎn)單、實(shí)用,可信度高的特點(diǎn)。適合IC分銷(xiāo)商,性投資可以降低你的測(cè)試成本。
產(chǎn)品型號(hào):I1C16256-25K測(cè)試儀(適用于I1C16256-25K系列芯片)
產(chǎn)品優(yōu)點(diǎn):
1.品牌
2.儀器性高,穩(wěn)定性好
3.測(cè)試速度快
4.操作簡(jiǎn)單
5.界面直觀
6.成本低廉
對(duì)于一些功能簡(jiǎn)單,數(shù)量較多的IC,做測(cè)試儀將會(huì)是你的選擇,隨地,想測(cè)就測(cè),滿足你各種不同的測(cè)試需求。以下是之前設(shè)計(jì)制作的部分測(cè)試儀,定制請(qǐng)來(lái)電。




