X-熒光鍍層測厚儀CMI900金屬鍍層厚度的測量
CMI 900系列X射線熒光測厚儀是一種大的材料涂/鍍層測量儀器,可應用于材料的涂/鍍層厚度、材料組成、貴金屬含量檢測等領域,為產品質量控制提供準確、快速的分析?;赪indows2000中文視窗系統的中文版 SmartLink FP 應用軟件包,實現了對CMI900主機的自動化控制。
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