GDW－100B高低溫試驗箱
　　
　　高低溫試驗箱可以用來考核和確定電工電子產(chǎn)品或材料在溫度的環(huán)境條件下貯存和使用的適應(yīng)性，設(shè)備采用強迫空氣循環(huán)來保持工作室內(nèi)溫度的均勻性，試驗時試驗樣品不會受到設(shè)備內(nèi)加熱與冷卻元件的直接輻射。
　　
　　一、參照標準
　　本產(chǎn)品滿足GB2423.1－2001試驗A《高溫試驗方法》；GB2423.2－2001試驗B《低溫試驗方法》等標準，以及其它相關(guān)標準的要求。嚴格按GB 10592—89《高低溫試驗箱技術(shù)條件》進行設(shè)計制造，可進行各種高低溫環(huán)境試驗
　　
　　二、主要技術(shù)參數(shù)
　　型號工作室尺寸（深×寬×高）mm 外形尺寸（深×寬×高）mm 功率（KW）
　　GDW－100B型 400×500××950×1650 3.0
　　GDW－150B型 500×500××950×1730 3.0
　　GDW－225B型 500×600××1050×1850 3.5
　　GDW－500B型 700×800××1280×2100 5.0
　　GDW－800B型 800×1000××1480×2200 7.0
　　GDW－010B型 1000×1000××1480×2200 9.0
　　
　　溫度范圍
　　A型：0℃～130℃B型：-20℃～130℃C型：-40℃～130℃
　　D型：-60℃～130℃E型：-70℃～130℃
　　溫度均勻度：≤2℃（空載時）
　　溫度波動度：&plun;0.5℃（空載時）
　　溫度偏差：≤&plun;2℃
　　降溫速率：1.0℃/min（空載時）
　　時間設(shè)定范圍：0～999.9小時分鐘秒
　　
　　GDW－100B高低溫試驗箱