美國BOWMAN（博曼）X-RAY膜厚測試儀無論是無標準片測量還是有標準片測量，快速并且準確的獲得測量結果。為了簡化樣品放置，X射線源和高分辨硅接收器置于了 XAN的底部，從而可以采用射線向上的測量技術。集成了含十字線、射線位置指示標志、光亮及位置調節的視頻顯微系統，將使得樣品的放置和測量定位變得快捷而容易。現在您需要調節測量臺或是樣品臺——放下樣品即可開始測量。美國BOWMAN（博曼）X-RAY膜厚測試儀實用性:次的發明,包括使用DCM 自動對焦方法和透明的準值器，操作簡單。不用調校X-射線管的距離也可測量，操作人員要調校樣品焦距便可以測量。為客戶的價值是金東霖追求的目標，因為我們堅信，客戶的需要就是我們前進的動力。愿我們成為真誠的合作伙伴、共同描繪雙方的發展藍圖
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