譜橢偏儀(PH-SE型)針對太陽能電池應用，可測量多晶硅/單晶硅絨面表面單層（二層或多層）減反射膜、和玻璃/基底上的薄膜太陽能電池。多層膜和非均勻薄膜的分析也出色。針對太陽能電池應用的光譜橢偏儀基于的橢偏光路設計，高靈敏度探測單元和光譜橢偏儀分析軟件，可測量各種太陽能電池的薄膜厚度和光學常數，光學帶寬等。



光譜橢偏儀-產品特點

■連續波長的光源為用戶提供了更大的應用空間
■更簡便快捷的樣品準直方法
■軟件具備豐富的材料數據庫
■允許用戶自定義色散模型，更方便用戶研究新材料的光學性質
■全波長多角度同時數據擬合，EMA模型用戶多成分化合物和表面粗糙度分析
■具有實驗數據和模擬數據三維繪圖功能
■光譜范圍寬達250 - 1100nm (可擴展至250-1700nm)
■大的光譜橢偏測量與分析軟件



光譜橢偏儀-技術指標

■光源：氙燈
■光斑直徑：1-3mm
■入射角范圍：20°到90°,5°/步
■波長范圍：350-850nm，250-1100nm，250-1700nm：0.002°~ 0.02°
■波長：1nm
■ 測量時間: < 8s（取決于測量模式和粗糙度）
■ 樣品尺寸: 125x125mm 156x156mm,200x200mm電池片,其他尺寸
■ 測量：0.02nm
■ 折射率：0.0002, 100nmSiO2 on Si 
■ 厚度測量范圍：0.01nm ~ 50um
■ 消光比：10^-6

光譜橢偏儀-可選配

■CCD線陣列探測元件：200-850nm，350-1000nm
■樣品顯微鏡
■高穩定性消色差補償器
■測量架
■XY移動樣品臺

光譜橢偏儀-典型客戶

美國，歐洲，亞洲及國內太陽能及半導體客戶。

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