MJLD型法向發射率測量裝置
產品介紹
MJLD型法向發射率測量裝置，主要用于測量材料的太陽法向發射率。配有計算機和工作軟件，實現自動測量的測量設備。本裝置是由國航天科技企業和航天研究員聯合研制。是航天系統測量的智慧結晶。本設備是國內，填補國內測量材料太陽法向發射率儀器的空白，同時在測量方法上有進一步的。
主要用途
測量材料表面的法向發射特性。 技術指標 法向發射率
◆測量范圍：0.0 5～0.9 9
◆工作溫度范圍：室溫～100℃
◆測量不確定度：當εn＞0.7 為±1.5％；當εn＜0.2 為±5％；其余為2％
◆探測器：平面熱電堆
◆峰值波長：8.4～11μm
產品介紹
MJLD型法向發射率測量裝置，主要用于測量材料的太陽法向發射率。配有計算機和工作軟件，實現自動測量的測量設備。本裝置是由國航天科技企業和航天研究員聯合研制。是航天系統測量的智慧結晶。本設備是國內，填補國內測量材料太陽法向發射率儀器的空白，同時在測量方法上有進一步的。
主要用途
測量材料表面的法向發射特性。 技術指標 法向發射率
◆測量范圍：0.0 5～0.9 9
◆工作溫度范圍：室溫～100℃
◆測量不確定度：當εn＞0.7 為±1.5％；當εn＜0.2 為±5％；其余為2％
◆探測器：平面熱電堆
◆峰值波長：8.4～11μm
