- 品牌/商標：乾曜光學
- 企業類型：制造商
- 新舊程度：全新
- 原產地：上海
- 測試口徑：Φ150mm
- 標準鏡面形：λ/20
- 標準鏡材料：熔石英（康寧7980）
- 供選配件：密封罩、衰減過濾片
詳細介紹
QY-P-150平面干涉儀 :專為光學車間現場使用設計，標準測試口徑Φ150mm。主要用途：平面類光學元件（包括玻璃、金屬、陶瓷等）表面面形、光學平行度和材料均勻性的測試。儀器規格參數表 ◇150mm產品型號 QY-P-150 類型 菲索型 測試口徑 標準鏡面形 λ/20 標準鏡材料 熔石英（康寧7980） 光源 半導體激光（635nm） 光路切換 對準（十字叉絲）與測試（干涉場）模式電控切換 顯示方式 計算機或獨立監視器實時顯示 供選配件 密封罩、衰減過濾片 儀器尺寸(長X寬X高) 380X300X1000mm 儀器重量 80KG 電源 AC220V 50Hz （附注：更大口徑平面干涉儀可依據客戶需求定制）
儀器特點
| 高：標準鏡高，且材料經過精密退火處理，穩定可靠； 調整方便：可通過切換開關選擇對準與干涉場兩種顯示模式，方便調整； 條紋真實：可調節共軛成像位置，得到清晰、準確、真實的干涉條紋； 性能優良：儀器具備良好的隔振性能，適合光學加工現場使用； 配件豐富：選配簡易密封罩，可將測試腔與外界氣流隔離，降低測試過程中氣流擾動，提高判斷的準確性 |
儀器操作流程
| 儀器初始化：開機后穩定15分鐘，使激光器模式穩定；將儀器右側的轉換開關切換至“對準調整”顯示模式，確保標準鏡反射光點位于十字叉絲中央。 光路粗調：將待測元件放置于載物臺上，將轉換開關切換至“對準調整”顯示模式，調整載物臺的兩維角度調節旋鈕，使待測面反射光點與標準鏡反射光點在十字叉絲中心重合。 光路精調：將轉換開關切換至“干涉圖”顯示模式，此時監視器上已經可以顯示出密集的干涉條紋，微調標準鏡調整架的兩維角度調節旋鈕，將視場內的干涉條紋調整至3~5根。 條紋判讀：依據GB 2831-81（光學零件的面形偏差檢驗方法），并結合我們為客戶特別制作的“干涉圖與波像差對比圖”（見附錄），進行條紋判讀。 3.2、特殊操作 干涉圖清晰度調節：通過調整標準鏡旁邊的“共軛調節旋鈕”，使干涉圖清晰的顯示在監視器上。儀器在出廠之前已經校正到成像位置，一般情況下不需要進行重新調整。 干涉圖對比度調節：當待測表面鍍高反膜時，干涉條紋對比度會較差，此時推薦選配衰減過濾片，將其插入待測元件與標準鏡之間衰減光強，可獲得良好的條紋對比度。 |
