- 品牌/商標:乾曜光學
- 企業類型:制造商
- 新舊程度:全新
- 原產地:上海
- 測試口徑:Φ150mm
- 標準鏡面形:λ/20
- 標準鏡材料:熔石英(康寧7980)
- 供選配件:密封罩、衰減過濾片
詳細介紹
QY-P-150平面干涉儀 :專為光學車間現場使用設計,標準測試口徑Φ150mm。主要用途:平面類光學元件(包括玻璃、金屬、陶瓷等)表面面形、光學平行度和材料均勻性的測試。儀器規格參數表 ◇150mm產品型號 QY-P-150 類型 菲索型 測試口徑 標準鏡面形 λ/20 標準鏡材料 熔石英(康寧7980) 光源 半導體激光(635nm) 光路切換 對準(十字叉絲)與測試(干涉場)模式電控切換 顯示方式 計算機或獨立監視器實時顯示 供選配件 密封罩、衰減過濾片 儀器尺寸(長X寬X高) 380X300X1000mm 儀器重量 80KG 電源 AC220V 50Hz (附注:更大口徑平面干涉儀可依據客戶需求定制)
儀器特點
| 高:標準鏡高,且材料經過精密退火處理,穩定可靠; 調整方便:可通過切換開關選擇對準與干涉場兩種顯示模式,方便調整; 條紋真實:可調節共軛成像位置,得到清晰、準確、真實的干涉條紋; 性能優良:儀器具備良好的隔振性能,適合光學加工現場使用; 配件豐富:選配簡易密封罩,可將測試腔與外界氣流隔離,降低測試過程中氣流擾動,提高判斷的準確性 |
儀器操作流程
| 儀器初始化:開機后穩定15分鐘,使激光器模式穩定;將儀器右側的轉換開關切換至“對準調整”顯示模式,確保標準鏡反射光點位于十字叉絲中央。 光路粗調:將待測元件放置于載物臺上,將轉換開關切換至“對準調整”顯示模式,調整載物臺的兩維角度調節旋鈕,使待測面反射光點與標準鏡反射光點在十字叉絲中心重合。 光路精調:將轉換開關切換至“干涉圖”顯示模式,此時監視器上已經可以顯示出密集的干涉條紋,微調標準鏡調整架的兩維角度調節旋鈕,將視場內的干涉條紋調整至3~5根。 條紋判讀:依據GB 2831-81(光學零件的面形偏差檢驗方法),并結合我們為客戶特別制作的“干涉圖與波像差對比圖”(見附錄),進行條紋判讀。 3.2、特殊操作 干涉圖清晰度調節:通過調整標準鏡旁邊的“共軛調節旋鈕”,使干涉圖清晰的顯示在監視器上。儀器在出廠之前已經校正到成像位置,一般情況下不需要進行重新調整。 干涉圖對比度調節:當待測表面鍍高反膜時,干涉條紋對比度會較差,此時推薦選配衰減過濾片,將其插入待測元件與標準鏡之間衰減光強,可獲得良好的條紋對比度。 |








