Agilent安捷倫4291B射頻阻抗分析儀

4291B 是 Agilent HP 的阻抗分析儀。電阻抗分析儀可以測量和監測交流或交流系統中的電流阻力。阻抗是指化學或物理特性如何與電壓和電流相互作用，或組件通過電流的能力。使用阻抗分析儀測試電容器、電感器和電阻器等設備。

附加的功能：

1 MHz 至 1.8 GHz

2通道獨立參數選擇

直接讀出介電常數、磁導率（選項）

多功能分析（溫度、科爾-科爾圖、弛豫時間）

掃描參數（頻率、交流電平、直流偏置、溫度）

Agilent 4291B 射頻阻抗/材料分析儀為表面貼裝元件和介電/磁性材料的高精度和簡單測量提供了一個整體解決方案。Keysight Agilent HP 4291B 使用直流電壓測量技術，與反射測量技術相反，可在寬阻抗范圍內進行更準確的阻抗測量。基本阻抗精度為±0.8%。高 Q 精度可實現低損耗分量分析。內部合成器以 1 mHz 的分辨率掃描 1 MHz 至 1.8 GHz 的頻率。一根 1.8 米長的無誤差電纜將分析儀連接到測試站，這樣您就可以將測試點從分析儀延伸出去，而不會損失精度。先進的校準和誤差補償功能可消除夾具中的測量誤差因素，并確保 DUT/MUT 的高精度和可重復性。Keysight Agilent HP 4291B 還通過使用 IBASIC 編程功能提供測試信號的自動電平控制和監控；設備可以在恒定電壓或電流下進行測量。使用可選的直流偏置（高達 40 V 和 100 mA）測量與偏置相關的阻抗特性。只需按一下按鈕，內置的等效電路分析功能就會自動計算五個電路模型的電路常數值。Keysight Agilent HP 4291B 有兩個測量通道；每個通道都可以設置為測量單個（例如 Z）或雙（例如 Z-theta）阻抗參數。具有分屏顯示的彩色 TFT 可以同時顯示活動跡線和內存跡線（存儲在 RAM 中）。內置軟盤驅動器以 LIF 或 MS-DOS 格式存儲程序和測試數據。內置 IBASIC，您可以直接從 Agilent 4291B 控制外部測試設備，例如溫度室或晶圓探測器。您不需要單獨的儀器控制器。