型號/規(guī)格：JZ-LT2型18#$九州空間%^19#$制造商%^141#$全新%^20#$北京

產(chǎn)品描述：JZ-LT2型單晶少子壽命測試儀是參考美國 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)計(jì)的用于測量硅單晶的非平衡少數(shù)載流子壽命。半導(dǎo)體材料的少數(shù)載流子壽命測量，是半導(dǎo)體的常規(guī)測試項(xiàng)...

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型號/規(guī)格：JZ-LT2型18#$九州空間%^19#$制造商%^141#$全新%^20#$北京

產(chǎn)品描述：JZ-LT2型單晶少子壽命測試儀是參考美國 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)計(jì)的用于測量硅單晶的非平衡少數(shù)載流子壽命。半導(dǎo)體材料的少數(shù)載流子壽命測量，是半導(dǎo)體的常規(guī)測試項(xiàng)...

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型號/規(guī)格：WT-20003790#$%^3791#$%^3792#$%^3793#$%^3794#$%^3795#$%^3796#$

產(chǎn)品描述：少子壽命測試儀主要應(yīng)用于半導(dǎo)體/光電/光伏材料（單晶/多晶硅片及硅錠）的工藝控制及測試手段。通過測量少子壽命，可做出晶體生長及工藝過程引入的缺陷圖及硅...

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型號/規(guī)格：WT-20003790#$%^3791#$%^3792#$%^3793#$%^3794#$%^3795#$%^3796#$

產(chǎn)品描述：少子壽命測試儀主要應(yīng)用于半導(dǎo)體/光電/光伏材料（單晶/多晶硅片及硅錠）的工藝控制及測試手段。通過測量少子壽命，可做出晶體生長及工藝過程引入的缺陷圖及硅...

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型號/規(guī)格：JT-SZ

產(chǎn)品描述：太陽能多金硅少子壽命測試儀 功能特點(diǎn)：本設(shè)備是按照標(biāo)準(zhǔn)GB/T1553“硅單晶少數(shù)載流子壽命測定的高頻光電導(dǎo)衰減法”設(shè)計(jì)制造。高頻光電導(dǎo)衰減法在我國半導(dǎo)體集...

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型號/規(guī)格：JT-SZ

產(chǎn)品描述：太陽能多金硅少子壽命測試儀 功能特點(diǎn)：本設(shè)備是按照標(biāo)準(zhǔn)GB/T1553“硅單晶少數(shù)載流子壽命測定的高頻光電導(dǎo)衰減法”設(shè)計(jì)制造。高頻光電導(dǎo)衰減法在我國半導(dǎo)體集...

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產(chǎn)品描述：產(chǎn)品介紹： 　　HS-CLT少子壽命測試儀是一款功能異常強(qiáng)大的少子壽命測試儀，不適用于硅片少子壽命的測量，更適用于硅塊、硅棒、硅芯、檢磷棒、檢硼棒、籽晶等...

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產(chǎn)品描述：產(chǎn)品介紹： 　　HS-CLT少子壽命測試儀是一款功能異常強(qiáng)大的少子壽命測試儀，不適用于硅片少子壽命的測量，更適用于硅塊、硅棒、硅芯、檢磷棒、檢硼棒、籽晶等...

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型號/規(guī)格：HS-L1

產(chǎn)品描述：產(chǎn)品功能： 　　用以測試太陽能級硅材料和硅片的少數(shù)載流子壽命 　　 　　產(chǎn)品特點(diǎn)： 　　采用微波光電導(dǎo)衰退法；擁有發(fā)明； 　　采用紅外大功率單色激光器；...

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型號/規(guī)格：HS-L1

產(chǎn)品描述：產(chǎn)品功能： 　　用以測試太陽能級硅材料和硅片的少數(shù)載流子壽命 　　 　　產(chǎn)品特點(diǎn)： 　　采用微波光電導(dǎo)衰退法；擁有發(fā)明； 　　采用紅外大功率單色激光器；...

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型號/規(guī)格：HS-CLT

產(chǎn)品描述：產(chǎn)品品牌：HenergySolar 產(chǎn)品型號：HS-CLT ...

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型號/規(guī)格：HS-CLT

產(chǎn)品描述：產(chǎn)品品牌：HenergySolar 產(chǎn)品型號：HS-CLT ...

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型號/規(guī)格：ZNC-1C

產(chǎn)品描述：產(chǎn)品品牌：ACEGEM 產(chǎn)品型號：ZNC-1C ...

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產(chǎn)品描述：產(chǎn)品品牌：ACEGEM 產(chǎn)品型號：ZNC-1C ...

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型號/規(guī)格：DBC-35250#$%^51#$制造商%^129#$全新%^52#$北京

產(chǎn)品描述：晶閘管少子壽命測試儀用于測試可控硅或PN結(jié)(二極管)的長基區(qū)少子壽命。數(shù)字顯示測試結(jié)果，自動(dòng)測試。

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型號/規(guī)格：DBC-35250#$%^51#$制造商%^129#$全新%^52#$北京

產(chǎn)品描述：晶閘管少子壽命測試儀用于測試可控硅或PN結(jié)(二極管)的長基區(qū)少子壽命。數(shù)字顯示測試結(jié)果，自動(dòng)測試。

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產(chǎn)品描述：產(chǎn)品： 　　HS-MWR-2S-3無接觸少子壽命掃描儀是一款功能異常強(qiáng)大的無接觸少子壽命掃描儀，能夠?qū)尉Ч璋?、多晶硅塊及硅片提供快速、無接觸、傷、高分辨率的...

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產(chǎn)品描述：產(chǎn)品： 　　HS-MWR-2S-3無接觸少子壽命掃描儀是一款功能異常強(qiáng)大的無接觸少子壽命掃描儀，能夠?qū)尉Ч璋?、多晶硅塊及硅片提供快速、無接觸、傷、高分辨率的...

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型號/規(guī)格：WT/MWR系列

產(chǎn)品描述：■可用于硅棒、硅塊、硅片的質(zhì)量控制（單晶硅棒和多晶硅錠去頭尾）■可用于電池工藝過程質(zhì)量控制■可用于實(shí)驗(yàn)室和試驗(yàn)線的研發(fā)■自動(dòng)尋找邊緣，用于不同形狀...

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型號/規(guī)格：WT/MWR系列

產(chǎn)品描述：■可用于硅棒、硅塊、硅片的質(zhì)量控制（單晶硅棒和多晶硅錠去頭尾）■可用于電池工藝過程質(zhì)量控制■可用于實(shí)驗(yàn)室和試驗(yàn)線的研發(fā)■自動(dòng)尋找邊緣，用于不同形狀...

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