型號/規格：S1400D-LCD70#$東京精密%^71#$貿易商%^143#$全新%^72#$日本

產品描述：東京精密S1400D-LCD手機玻璃光潔度臺階儀多少錢，東京精密S1400D-LCD手機玻璃光潔度臺階儀市場報價，東京精密S1400D-LCD手機玻璃光潔度臺階儀總代理商-武漢科...

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型號/規格：NanoMap-PS70#$%^71#$%^143#$%^644#$%^72#$

產品描述：臺階儀 厚度47nm光柵標準樣品,三次重復測量結果(減噪修正，原始數據輸出）NanoMap-PS是一款專門為nm級薄膜測量...

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型號/規格：NanoMap-PS70#$%^71#$%^143#$%^644#$%^72#$

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型號/規格：XT102#$%^103#$%^139#$%^104#$

產品描述：布魯克DektakXT （探針式表面輪廓儀）設計，實現了更高的重復性和分辨率，垂直高度重復性<5?。這一里程碑式的產品源自于Dektak系列占據業界長達四十年的優異...

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型號/規格：DektakXT

產品描述：布魯克 DektakXT 臺階儀（探針式表面輪廓儀）是一項性的設計，可以提供更高的重復性和分辨率，測量重復性可以5?。第十代DektakXT 臺階儀（探針式表面輪廓儀）...

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型號/規格：DektakXT

產品描述：布魯克 DektakXT 臺階儀（探針式表面輪廓儀）是一項性的設計，可以提供更高的重復性和分辨率，測量重復性可以5?。第十代DektakXT 臺階儀（探針式表面輪廓儀）...

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型號/規格：ET150

產品描述：產品特點： 二次元表面解析，可測量段差 高、高分辨率和良好的再現性 FPD面板顯示，可測定微細表面形狀、段差、粗度等 低測定力，可測定軟質材料

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型號/規格：ET150

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型號/規格：ET200

產品描述：KOSAKA ET200基于 Windows XP操作系統為多種不同表面提供的形貌分析，包括半導體硅片、太陽能硅片、薄膜磁頭及磁盤、MEMS、光電子、精加工表面、生物器件、薄...

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型號/規格：ET200

產品描述：KOSAKA ET200基于 Windows XP操作系統為多種不同表面提供的形貌分析，包括半導體硅片、太陽能硅片、薄膜磁頭及磁盤、MEMS、光電子、精加工表面、生物器件、薄...

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產品描述：集40多年的探針輪廓技術于一身，該系統在行業內的表現，以重現性和標準掃描范圍而著稱。它提供各種各樣的配置和附加選項，用于程序化測量、低探針力表征和細...

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型號/規格：KOSAKA ET200

產品描述：恒本精密設備有限公司_日本日本小坂華東總代理

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產品描述：探針式輪廓儀（臺階儀/膜厚儀）Dektak XT 　　布魯克 Dektak XT 臺階儀（探針式表面輪廓儀）是一項性的設計，可以提供的重現性，重現性低于5＆＃197；。臺階...

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產品描述：探針式輪廓儀（臺階儀/膜厚儀）Dektak XT 　　布魯克 Dektak XT 臺階儀（探針式表面輪廓儀）是一項性的設計，可以提供的重現性，重現性低于5＆＃197；。臺階...

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型號/規格：ET200

產品描述：供應日本KOSAKA臺階儀ET200——上海/蘇州/無錫/南京/天津/北京/武漢/西安/杭州/濟南/廣州 KOSAKA LAB ET 200微細形狀測定機（探針接觸式臺階儀） ...

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