臺階儀
厚度47nm光柵標(biāo)準(zhǔn)樣品,三次重復(fù)測量結(jié)果(減噪修正，原始數(shù)據(jù)輸出）
NanoMap-PS是一款專門為nm級薄膜測量研發(fā)的無需震臺即可測量的接觸式臺階儀
AFM位移傳感器，
壓電陶瓷驅(qū)動掃描，無內(nèi)源振動
自集成主動反饋式震系統(tǒng)
真正無需額外輔助震系統(tǒng)，實現(xiàn)高重復(fù)性納米測量
納米量級科學(xué)研究的備產(chǎn)品
NanoMap-PS 臺階儀可以應(yīng)用在半導(dǎo)體，光伏/太陽能，光電子，化合物半導(dǎo)體，OLED，生物醫(yī)藥，PCB封裝等領(lǐng)域的薄膜厚度，臺階高度，粗糙度（Ra,Rq,Rmax...），劃痕深度，磨損深度，薄膜應(yīng)力（曲定量率半徑法）等定量測量方面。其高，高重復(fù)性，自動探索樣品表面，自動測量深受廣大客戶歡迎。
測量表面可以覆蓋多種材料表面：金屬材料、陶瓷材料、生物材料、聚合物材料等等，對于植物表面，生物材料，聚合物表面，光刻膠等“柔軟表面”也可測量無須擔(dān)心劃傷或破壞。設(shè)備傳感器高，穩(wěn)定性好。熱噪聲是同類產(chǎn)品的。垂直分辨率可達(dá)0.1nm 。 可測表面，包括透明、金屬材料，半透明、高漫反射，低反射率、拋光、粗糙材料，金屬、玻璃、木頭、合成材料、光學(xué)材料、塑料、涂層、涂料、漆、紙、皮膚、頭發(fā)、牙齒等；
AEP的技術(shù)日新月異。 欲了解新的產(chǎn)品性能參數(shù)，請與我們聯(lián)系。
主要參數(shù) :
垂直分辨率 0.1nm
垂直量程 1000um
探針接觸力 0.03mg-100mg
平臺范圍 直徑150毫米（可選200毫米或更大）
高清圖像 4級放大，彩色CCD
成像光源 雙長壽命強光LED
金剛石探針 0.5um 到 25um 可選
請call：4000666226，電話：+86-
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XP-1/XP-2；XP-100(D100)/XP-200(D120)/XP-300；α-step IQ(100,200,250,500)；α-step P6；α-step P16+(P1,P2,P10,P11,P11,P15)；α-step P16+0F； KLA-Tencor公司
光學(xué)輪廓儀(白光干涉儀/ 移相干涉儀)；MicroXam 100；MicroXam 1200
