- 企業類型：制造商
- 新舊程度：全新
- 原產地：法國
儀器簡介：
技術參數：
主要特點：
應用：
◆ 薄膜厚度、n值及k值的測量，可應用于任何薄膜生長或者鍍膜工藝的監控。
技術參數：
Sopra公司是世界上的橢偏儀設備供應商，其高的橢偏儀在半導體、化合物半導體（GaAs/SiC）、LCD及MEMS領域有著非常廣泛的應用。目前，全世界有超過500臺的Sopra橢偏儀應用于各個行業。
主要特點：
◆ 高的薄膜測量（膜厚、n值、k值）；
◆ 全世界家寬光譜橢偏儀技術的發明者；
◆ VLSI及其他的測試標準均由Sopra標第；
◆ 強擴展性：Fast UV VIS CCD 模式，高分辨率DUV-VIS模式及FTIR/4PP功能。
