50xNikon相干測量物鏡
產品說明：
· 適合非接觸光學壓型
· 可選Michelson 和 Mirau 鏡頭
· 200mm鏡筒遠場校正設計
干涉測量鏡頭可用在非接觸光學壓型測量設備上，通過此鏡頭可得到表面位圖和表面測量參數等。也可用來檢測表面粗糙度，測量高，在一個波長之內。一束光通過分光鏡，可將光直接射向樣品表面和內置反光鏡。從樣品表面反射的光線通過再結合，就產生了干涉圖案。與Mirau鏡頭比起來，Michelson鏡頭擁有更長的工作距離，更寬的視場和更大的焦深。Mirau鏡頭用在需要率和/或大數值孔徑的場合。采用Nikon 200mm鏡筒(#58-520)的話可將鏡頭直接裝配到C接口相機上。
品名型號 | 50xNikon相干測量物鏡 | 產品號 | 59-314 |
放大率 | 50X | 數字孔徑(NA) | 0.55 |
焦深(μm) | 0.9 | 視場, 1/2" 傳感器 | 0.13 x 0.10mm |
視場, 2/3" 傳感器 | 0.18 x 0.13mm | 視場，20直徑視場目鏡 (mm) | 0.22 |
視場，25直徑視場目鏡 (mm) | 0.5 | 焦距 | 4.0 |
生產商 | Nikon | 安裝螺紋 | RMS |
分辨能力 (μm) | 0.5 | 類型 | Mirau |
重量 (g) | 150.00 | 工作距離WD (mm) | 3.4 |
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